HCF40147BEY Просмотр технического описания (PDF) - STMicroelectronics
Номер в каталоге
Компоненты Описание
производитель
HCF40147BEY Datasheet PDF : 12 Pages
| |||
TEST CIRCUITS
Quiescent Device Current.
Noise Immunity.
HCC/HCF40147B
Input Leakage Current.
Dynamic Power DIssipation Test Circuit
7/12
Share Link: 